|
质量提升 : 改善ARC layer特性,提升电池质量 |
|
在晶圆表面的悬浮键(dangling bond)即未形成键结的电子。悬浮键含有极高的活性,容易形成 trap centers,造成电子电洞对的再结合,因而降低载子的寿命,降低转换效率。因此本产品特色是利用Annealing(退火) 方式,修补表面悬浮键,进而改善产品效率。
而本产品特色是改善ARC Layer特性(Si-rich),因而改善电池的抗PID效应,进而提升电池质量。
|
|
效率提升:修补表面悬浮键,提升电池效率 |
|
在晶圆表面的悬浮键(dangling bond)即未形成键结的电子。悬浮键含有极高的活性,容易形成trap centers,造成电子电洞对的再结合,因而降低载子的寿命,降低转换效率。
因此本产品特色是利用Annealing(退火)方式,修补表面悬浮键,进面改善产品效率。
|
|
|
|
盐雾测试条件:IEC-60068-2-52 |
|
一天的一周期循环测试(测试期间:7天)说明:
第1天~第4天:喷洒4次,各2小时,其后湿度保管各22小时(各1天,4天期) 第5天~第7天:在一般大气下保管3天 总计:56天期(8循环x7天
|
|
盐雾测试前后结果对照 |
|
测试前后的输出衰减率几乎不变。
|
|
|
|
热点的检查方法 1 |
|
单晶胞:-10V,逆电流:1.58A晶胞温度:83度→有热点的风险(中度)
|
|
热点的检查方法 2 |
|
单晶胞:-13.5V,逆电流:2.42A晶胞温度:137度 →有热点(高度)
|
|
|
EL检测 |
|
是指利用EL(电致发光)现象所进行的检测,使晶胞通电后,利用晶胞本身发光的特性,使用特殊相机检查有无会对可靠性造成长久影响的瑕疵,例如晶胞内部无法用肉眼确认的微裂缝或电极不良等。 晶胞的缺陷或杂质会于影像中呈现出浓淡,可藉由其浓淡的程度来确认质量。
|
|
|
TSEC组件的保固制度 |
|
10年品质保固
太阳能电池组件如有瑕疵,自交货日起10年内免费对该部分组件进行修理或更换。
25年线性功率输出保固
太阳能电池组件的最大额定输出如于JIS C8919规定的条件下低于标准,自交货日起25年内免费对该部分组件进行修理或更换(参照下图)。
|
|